Chroma 11090-030 RF LCR 미터는 SMD 칩 인덕터 및 RF 필터 등의 수동 부품에 대한 고주파 측정 및 평가 솔루션을 제공합니다. 최대 300MHz의 테스트 주파수를 갖춘 이 장비는 POL 또는 소형 DC-DC 컨버터와 같은 부품의 공칭 주파수 테스트에 대한 증가하는 수요를 충족할 뿐만 아니라 초고주파에서만 감지할 수 있는 품질 이상 현상도 해결합니다. 또한 EMI 필터 및 페라이트 비드와 같은 부품에 대한 일반적인 100MHz 임피던스 테스트 요건을 충족할 수 있습니다.

이 솔루션은 Z, θz, Y, θy, R, X, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp, Rs, Rp, D, Q 등의 측정 파라미터와 다양한 수동 부품 테스트에 필요한 기타 1차 및 2차 파라미터를 지원합니다. RF 전류-전압 변환 기술을 사용하는 100kHz ~ 300MHz의 넓은 테스트 주파수 범위는 네트워크 분석기보다 더 넓은 임피던스 측정 범위를 제공하고 자동 밸런싱 브리지 기술보다 더 높은 주파수 측정 범위를 제공합니다. 이는 R&D 및 품질 보증 부서가 다양한 주파수에서 수동 부품 특성을 분석하는 데 적합합니다. 또한 장비의 초저음 노이즈, 저고조파 왜곡 신호 발생기는 고품질 측정 신호를 제공하여 임피던스 테스트의 정확성을 향상시킵니다.

11090-030의 기본 측정 정확도는 0.8%로 매우 안정적이고 신뢰할 수 있는 측정 결과를 보장합니다. 0.5ms의 빠른 측정 속도 덕분에 자동화 환경에서 작업할 경우 효과적으로 생산성이 높아집니다. SMD 테스트 고정부는 다양한 종류의 소형 SMD와 호환되며, 개선된 푸시다운 작동 방식을 채택하여 90도 회전할 수 있어 단 3단계만으로 DUT를 변경할 수 있습니다(실제 테스트에는 약 40초 소요). 이를 통해 다양한 크기의 DUT를 변경하는 데 소요되는 시간을 줄이고 장치 가이드를 반복적으로 재조립할 필요가 없어 테스트 속도가 빨라지고 마모 및 유지 관리 비용도 절감됩니다.

Chroma 11090-030은 종합적인 설계와 강력한 기능 향상을 통해 제품 특성화, 자동 생산 라인의 신속한 테스트, 다양한 입고 및 출고 검사 응용 분야를 위한 완벽한 테스트 솔루션을 제공합니다.